《Nano Lett》：澤攸科技樣品桿應用于CNTs缺陷調控
日期：2018-08-15
碳納米管（CNTs）中往往不可避免地存在結構缺陷。這些結構缺陷不僅會破壞晶格結構的完整性，還有可能嚴重影響碳納米管的機械性能。但從另一個角度看，刻意而準確地在CNTs中調控缺陷，可以按需求調節其機械性能。本文介紹了一種利用掃描探針式原位樣品桿在透射電子顯微鏡（TEM）中準確調節CNTs缺陷的技術。這種技術不僅調節準確、過程可逆并且還具有較高重復性，對基于CNTs的諧振器器件研發意義重大。相關研究成果由廈門大學及日本NIMS研究所聯合完成，發表在《Nano Lett》上。
澤攸科技的PicoFemto原位TEM-STM系統在該研究中穩定地完成了載樣、亞納米級操縱、施加高頻交變電場以及脈沖電流的工作。
研究者在TEM中，利用電子束輻照，將CNT的一端焊接在原位樣品桿的W針尖位置。通過在金電極和W針尖之間施加交變電流，使CNT發生諧振。
研究者利用納米操縱單元分別將CNT兩端與W針和金電極接觸，并通過脈沖電流和電子束輻照實現對CNT中缺陷的調制。此過程可以通過TEM圖像實時原位觀測。
通過在原位探針桿上安置力學模塊，研究者進一步研究了調制后的CNT的機械性能。
想了解更多實驗細節及研究案例可發送郵件至support@zeptools.com詳詢。公眾號也會不斷更新各種產品的研究案例。
公司原位TEM/SEM系列核心產品：
原位TEM/SEM亞納米操縱手
原位TEM/SEM電學測量系統
原位TEM/SEM力學-電學測量系統
原位TEM/SEM光學-光電測量系統
原位TEM/SEM加熱/電化學/電學/液體多功能測量系統
原位TEM/SEM流動式電化學測量系統
原位TEM/SEM流動式氣體測量系統
新品介紹：
1.單傾TEM三樣品桿（一次載入三樣品，測試效率倍增）
2.雙傾TEM三樣品桿
3.樣品桿預抽泵組（實驗前預抽，實驗后保存）
安徽澤攸科技有限公司
ZepTools Technology Co., Ltd.
郵箱：support@zeptools.com
主頁：m.xmm2fs.com
作者：小攸