中文
English

PicoFemto系列透射電鏡原位多場耦合樣品桿，結合TEM+STM+MEMS原位技術，通過更換不同類型的原位芯片及探針，在透射電鏡中實現光、電、力、熱多種原位功能。

PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位多場耦合樣品桿是原位透射電子顯微鏡實驗系統，借助該系統，研究人員可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境（包括光、電、力、熱等），從而對材料或者器件等不同類型樣品實現多重激勵下的原位表征。

具備多種耦合方式：力-熱、力-電、光-電、光-電-力、光-電-力-熱

原位多場耦合樣品桿-技術指標

透射電子顯微鏡內不同溫度下的原位充放電研究

In Situ TEM Observations of Discharging/Charging of Solid-State Lithium-Sulfur Batteries at High Temperatures

doi: 10.1002/smll.202001899

原位多場耦合樣品桿-產品選型

原位多場耦合樣品桿  具有單傾、雙傾（JEOL）兩個版本；

澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號樣品桿，支持定制。

原位多場耦合樣品桿-同內部分用戶

原位多場耦合樣品桿-典型案例

1、加熱芯片+電學探針-------＞透射電鏡內的原位加熱電學實驗；

2、加熱芯片+力學探針-------＞透射電鏡內的原位高溫力學實驗；

3、電學芯片+電學探針-------＞透射電鏡內的三端器件測量實驗；

4、電學芯片+光纖單元-------＞透射電鏡內的電制發光現象研究；

5、電學芯片+光纖單元-------＞透射電鏡內的原位光電現象研究。

安徽澤攸科技有限公司是原位多場耦合樣品桿生產廠家，關于原位多場耦合樣品桿價格請咨詢