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掃描電鏡（SEM）的像差主要來自電子光學系統中電子束的聚焦與成像缺陷，常見的類型主要有以下幾類：

1. 球差

成因：電子透鏡對不同離軸距離的電子聚焦能力不同，離軸較遠的電子會比近軸電子聚焦在更近的位置。

表現：圖像邊緣模糊、分辨率下降，尤其在高放大倍數下明顯。

解決方法：減小物鏡孔徑、優化聚焦、使用像差校正器。

2. 色差

成因：電子束能量分布不均（加速電壓波動、樣品二次發射能量差異等）導致聚焦點不同。

表現：圖像整體模糊，細節不清晰。

解決方法：穩定加速電壓、使用能量單色化器、降低束流能量擴展。

3. 失真

成因：掃描線性度不佳或透鏡磁場分布不均。

表現：圖像幾何形狀被拉伸或壓縮，比如方形變成長方形。

解決方法：校準掃描系統、優化掃描速度。

4. 像散

成因：透鏡磁場在不同方向上聚焦能力不同（可能由透鏡缺陷、污染、樣品磁性等引起）。

表現：圖像在一個方向清晰，垂直方向模糊。

解決方法：用消像散器調節，使兩個方向的聚焦一致。

5. 掃描像差

成因：掃描線偏移、時間延遲、電子束穩定性差。

表現：圖像有波紋、拖影或邊緣畸變。

解決方法：調整掃描參數、穩定電子槍和電源、減少外部干擾。

6. 衍射限制

成因：電子波的波長效應，即使消除了幾何像差，波動性也會限制分辨率。

表現：在極高分辨率成像下，細節受限。

解決方法：提高加速電壓（縮短電子波長），但要兼顧樣品損傷和充電效應。