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在掃描電子顯微鏡（SEM） 中觀察顆粒尺寸分布，通常需要結(jié)合 樣品制備、圖像采集和數(shù)據(jù)分析。下面我給你整理一個完整流程：

1. 樣品制備

顆粒尺寸測量的準確性，很大程度上取決于樣品制備。

干燥分散

如果是粉末顆粒，先將樣品干燥，避免顆粒團聚。

可在溶劑中分散后滴在載網(wǎng)或樣品臺上自然干燥。

導電處理

非導電顆粒需要鍍 金或碳，防止電子束充電導致圖像模糊。

減少堆疊

顆粒盡量分開鋪開，避免上下重疊，否則測得的尺寸不準確。

2. SEM 圖像采集

放大倍數(shù)

選擇合適的放大倍數(shù)，使顆粒完整顯示且分辨率足夠高。

放大倍數(shù)要保證每個顆粒在圖像上至少有幾十個像素，方便后續(xù)測量。

掃描模式

常用 SE（Secondary Electron）模式，可清晰顯示顆粒輪廓。

對于顆粒高度差異大，可適當調(diào)整 工作距離 或 景深。

圖像質(zhì)量

調(diào)整 加速電壓、光斑大小，避免圖像過暗、過亮或條紋。

3. 圖像處理與尺寸測量

二值化 / 閾值處理

將顆粒輪廓提取出來，生成黑白二值圖。

顆粒識別

使用 ImageJ/Fiji、MATLAB 或 Igor Pro 圖像分析工具，識別每個顆粒。

可以進行顆粒邊緣檢測或分割處理。

尺寸測量

顆粒直徑：測量等效圓直徑 D=πD = \sqrt{\frac{4A}{\pi}}D=，其中 AAA 是顆粒面積。

顆粒長寬比、周長等參數(shù)也可計算。

統(tǒng)計分析

將所有顆粒尺寸整理成 直方圖或累積分布曲線。

可計算平均粒徑、標準差、粒徑分布范圍。