IMC20┃9月10日澤攸科技與您相約韓國釜山國際顯微學大會
日期：2023-09-08
9月10日~15日，IMC20（第20屆國際顯微學大會）將在韓國釜山BEXCO會議中心召開舉行，澤攸科技將攜一眾先進科學儀器及新微納技術領域行業(yè)解決方案，誠邀您共赴盛會！
國際顯微學大會（International Microscopy Congress）是由國際顯微學聯(lián)合會 (IFSM)舉辦的國際顯微學領域的學術性會議。大會每4年召開一次，吸引來自全球上千名學者專家參會，大會同期舉辦聯(lián)合會全體大會，選舉該組織新一屆領導層。第一屆大會于1954年在荷蘭德爾夫特召開。
圖. 澤攸科技展位圖
澤攸科技是一家具有完全自主知識產(chǎn)權(quán)的先進科學儀器公司，專注于研發(fā)、生產(chǎn)和銷售原位電鏡解決方案、掃描電鏡整機、臺階儀、探針臺等科學儀器，立志成為具有國際先進水平的材料表征測量儀器及半導體加工科學儀器制造商。目前，公司有包括PicoFemto系列原位TEM/SEM測量系統(tǒng)、ZEM系列臺式掃描電鏡、JS系列臺階儀等在類的多個產(chǎn)品線，在國內(nèi)外均獲得了高度關注。
ZEM系列臺式掃描電鏡同時兼具成像質(zhì)量和便攜性，加速電壓可以連續(xù)調(diào)節(jié)，可同時搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、集成式能譜儀及多種原位樣品臺，擁有多項自主創(chuàng)新技術，滿足不同實驗及檢測需求，應用領域廣泛。
PicoFemto系列原位TEM測量系統(tǒng)是將光、電、力、熱、冷凍、液體、氣氛等功能集成到透射電鏡內(nèi)，將您的透射電鏡打造成功能強大的納米實驗室。
PicoFemto系列原位SEM測量系統(tǒng)是將拉伸、納米壓痕、低溫、液體、氣體等復雜的測試模塊集成進掃描電鏡，大大提高您掃描電鏡的應用領域。
以上就是澤攸科技小編分享的IMC20┃9月10日澤攸科技與您相約韓國釜山國際顯微學大會。
作者：澤攸科技