《Nano Lett》：澤攸科技樣品桿應(yīng)用于CNTs缺陷調(diào)控
利用掃描探針式原位樣品桿在透射電子顯微鏡（TEM）中精確調(diào)節(jié)CNTs缺陷的技術(shù)。這種技術(shù)不僅調(diào)節(jié)精確、過(guò)程可逆并且還具有較高重復(fù)性，對(duì)基于CNTs的諧振器器件研發(fā)意義重大。
MORE INFO → SEM原位解決方案 2018-08-15
利用掃描探針式原位樣品桿在透射電子顯微鏡（TEM）中精確調(diào)節(jié)CNTs缺陷的技術(shù)。這種技術(shù)不僅調(diào)節(jié)精確、過(guò)程可逆并且還具有較高重復(fù)性，對(duì)基于CNTs的諧振器器件研發(fā)意義重大。
MORE INFO → SEM原位解決方案 2018-08-15
澤攸科技原位TEM-STM系統(tǒng)原位焊接，中國(guó)石油大學(xué)、燕山大學(xué)和西安交通大學(xué)聯(lián)合公開(kāi)了一項(xiàng)在環(huán)境透射電子顯微鏡（ETEM）中利用原位亞納米操縱探針實(shí)現(xiàn)納米陶瓷材料焊接的技術(shù)，相關(guān)研究成
MORE INFO → SEM原位解決方案 2020-09-23
澤攸科技原位TEM樣品桿在二維儲(chǔ)能，為了弄清楚幾何位點(diǎn)在鋰/鈉離子電池中發(fā)揮的作用，研究者們應(yīng)用了原位X射線衍射、原位X射線吸收、原位拉曼光譜、原位紅外光譜、原位核磁共振等等研究
MORE INFO → SEM原位解決方案 2018-08-15
原位透射電子顯微鏡光學(xué)-光電測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)用案例，ZnO是一種重要的II-VI族半導(dǎo)體材料。它擁有高達(dá)60 meV的激子結(jié)合能，以及25 meV的熱激活能。ZnO納米線可以被用于制造導(dǎo)波管，納米激光器，光探
MORE INFO → SEM原位解決方案 2017-12-20
原位透射電子顯微鏡光學(xué)-光電測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)用案例,CdS和ZnO都具有優(yōu)秀的光電性能，被認(rèn)為在光電探測(cè)器等領(lǐng)域有著廣闊的應(yīng)用前景。但是，CdS一維材料存在低量子效率和低響應(yīng)速度等問(wèn)題，ZnO納
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