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掃描電鏡（SEM）的掃描速度對成像質量有非常重要的影響，它會直接決定圖像的清晰度、噪聲水平、對比度以及成像時間。下面是詳細解釋：

一、掃描速度快的影響（短駐留時間）

當掃描速度較快（也就是電子束在每個像素上的駐留時間很短）時：

1. 圖像信噪比較低

電子束每個像素只激發出較少的二次電子/背散射電子 → 電子信號較弱

信號電流低，圖像中噪聲增多，顆粒感強

2. 圖像模糊或對比度差

由于信號不充分，細節邊緣模糊，輪廓不清晰

易出現“漂移”或“條紋”偽影，特別是樣品不穩定時

3. 優點：成像速度快

適合快速預覽、尋找感興趣區域、對焦調節

二、掃描速度慢的影響（長駐留時間）

當掃描速度較慢（電子束在每個像素上停留更久）時：

1. 圖像更清晰

激發出的電子更多 → 信號更強，圖像更銳利、邊緣更清楚

2. 噪聲更少

信噪比高，圖像更平滑、顆粒感低，對比度好

3. 缺點：成像時間長

整幅圖像采集時間變長，樣品更容易受：

熱漂移（特別是納米尺度）

充電效應（非導電樣品）

機械漂移或電子束漂移